石英晶體元器件檢測和試驗標(biāo)準(zhǔn)

   1、SJ/Z9154.1-87(IEC444-1(1986))用π網(wǎng)絡(luò)零相位法測量石英晶體元件參數(shù) **部分，頻率和諧振電阻測量

    2、SJ/Z9154.2-87(IEC444-2)(1980)用π網(wǎng)絡(luò)零相位法測量石英晶體元件參數(shù)   第二部分，相位偏置法測量動態(tài)電容

    3、SJ/Z9154.3-87(IEC444-3)用π網(wǎng)絡(luò)零相位法測量石英晶體元件參數(shù)   第三部分，利用有并電容C0補償?shù)摩行途W(wǎng)絡(luò)相位法測量頻率達200MHz的石英晶體元件兩端網(wǎng)絡(luò)參數(shù)的測量方法

    4、SJ/T11212-1999 (IEC444-69(1995)) 石英晶體元件參數(shù)測量   第6部分   激勵電平相關(guān)性（DLD） 測量

    5、IEC68-2   環(huán)境試驗   第二部分   各種試驗

    6、GB2423   電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)

    7、GJB360A-1996（MIL-STD-202F）電子及電氣元件試驗方法

    8、MIL-STD-883 微電子器件試驗方法和程序